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真空高低溫探針臺主要應(yīng)用于半導(dǎo)體行業(yè)、光電行業(yè)、集成電路以及封裝的測試。廣泛應(yīng)用于復(fù)雜、高速器件的精密電氣測量的研發(fā)，旨在確保質(zhì)量及可靠性，并縮減研發(fā)時(shí)間和器件制造工藝的成本
更新時(shí)間：2024-03-29
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真空光電探針臺 主要應(yīng)用于半導(dǎo)體行業(yè)、光電行業(yè)、集成電路以及封裝的測試。廣泛應(yīng)用于復(fù)雜、高速器件的精密電氣測量的研發(fā)，旨在確保質(zhì)量及可靠性，并縮減研發(fā)時(shí)間和器件制造工藝的成本
更新時(shí)間：2024-03-27產(chǎn)品型號：瀏覽量：1725微型真空探針臺主要應(yīng)用于半導(dǎo)體行業(yè)、光電行業(yè)、集成電路以及封裝的測試。廣泛應(yīng)用于復(fù)雜、高速器件的精密電氣測量的研發(fā)，旨在確保質(zhì)量及可靠性，并縮減研發(fā)時(shí)間和器件制造工藝的成本
更新時(shí)間：2025-02-18產(chǎn)品型號：鄭科探瀏覽量：1782真空探針臺主要應(yīng)用于半導(dǎo)體行業(yè)、光電行業(yè)、集成電路以及封裝的測試。廣泛應(yīng)用于復(fù)雜、高速器件的精密電氣測量的研發(fā)，旨在確保質(zhì)量及可靠性，并縮減研發(fā)時(shí)間和器件制造工藝的成本
更新時(shí)間：2024-03-29產(chǎn)品型號：KT-Z1604T-RL瀏覽量：1649測試夾具要求：可實(shí)現(xiàn)XYZ移動； 高低溫探針臺的詳細(xì)介紹測試腔：同時(shí)滿足靜態(tài)/動態(tài)測試，304不銹鋼材質(zhì)，可在紫外燈下保證氣密性測試； 測試樣品數(shù)：同時(shí)測試8個(gè)樣品，可進(jìn)行頻率-阻抗測試、插指電極和場效應(yīng)管測試；
更新時(shí)間：2024-03-29產(chǎn)品型號：KT-Z1604T-RL瀏覽量：1709
